当前项目芯片投片回来，测试某算法偶尔出错，寻求达人支招。

martinlyj

有没有可能是测试环境的问题，另外封装也需要check下

papertiger

你描述得太简单了，应该更加详细点。
还可能有：
1，soft PG-connection。后端不好的会出错。
2，floating gate。erc script不好的检查不出来。
3，看看发热功耗什么的有没有异常。
4,130nm 还是有天线，不过天线只是影响yield，应该不影响功能。
5，可以做个快速spice 仿真。理论上可以查出一些问题来。

但是，从描述看，95%以上概率是前端造成的。

milkliu

000

xxzzc

先降频，如果降频可以解决，说明大概率setup时序违反造成的

Cribug2022

最后是什么问题

elone

首先确认是制造缺陷还是设计缺陷。
制造缺陷？ 做没做dft设计，做没做中测成测，是单颗芯片出错还是所有芯片都出错。如果都做了，而且所有芯片都会出错，应该是设计缺陷

设计缺陷？ review设计流程，升降频去测，升降压去测