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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › SCAN 详细介绍

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楼主: bambooyuyu

[资料] SCAN 详细介绍

发表于 2021-8-18 15:11:14 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2021-8-19 09:18:51 | 显示全部楼层

关于AC

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发表于 2021-8-19 16:05:07 | 显示全部楼层

Thanks for sharing!

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发表于 2021-8-23 15:30:43 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2021-8-23 19:41:04 | 显示全部楼层

赞描述的细节。

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发表于 2022-11-5 20:57:33 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2022-11-5 22:24:33 | 显示全部楼层

Thank you very much.

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发表于 2022-11-15 17:55:50 | 显示全部楼层

顶一个

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发表于 2022-11-21 17:22:49 | 显示全部楼层

Scan Test model 学习学习，辛苦辛苦，大佬大佬

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发表于 2022-12-4 19:08:58 | 显示全部楼层

看看

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