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[求助] 关于ATE加激励的问题

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发表于 2014-5-7 14:01:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请教各位,对设计中的数字模块做了DFT,并且生成了ATPG。芯片是数模混合电路,数字模块中有些输入信号,如A,是模拟电路送来的,因此在芯片顶层也就没有这些信号A的port,那么流片之后,在做可测性分析的时候,ATE设备能够给这些信号A加激励吗?谢谢了!
发表于 2016-3-23 14:51:48 | 显示全部楼层
关键是你用ATPG生成测试pattern时,A端口是灌入的什么激励?
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