DFT设计的问题【已解决】

guozhujun1

各位谁能告诉我这个问题怎么解决么？在没有加入低功耗设计之前么有问题，加入低功耗设计就出问题了，搞了很久都没有解决。很是纠结！！！
Error: Chain chain0 blocked at DFF gate watchdog/wdt_ctl_reg_reg[7] after tracing 2265 cells. (S1-1)
附图：

DFT设计问题

编写的脚本如下：


set test_default_delay 0
set test_default_bidir_delay 0
set test_default_strobe 30
set test_default_period 100

set_scan_configuration -chain_count 1 \

-style multiplexed_flip_flop \

-clock_mixing mix_clocks \

-internal_clocks none \

-add_lockup true \

-reuse_mv_cells false \

-power_domain_mixing true \

-mix_internal_clock_driver true



set_dft_insertion_configuration \

-synthesis_optimization none \

-preserve_design_name true \

-route_scan_enable true \

-route_scan_serial true


set_dft_configuration -scan enable \

-fix_xpropagation enable \

-fix_clock enable \

-fix_reset enable \

-fix_set enable

set_dft_drc_configuration -clock_gating_init_cycles 1

set_dft_signal -view existing_dft -type ScanMasterClock \

-port clk -timing [list 45 55] \

-hookup_pin [get_pins clk_pad/C]

set_dft_signal -view existing_dft -type ScanSlaveClock \

-port exclk_rtc -timing [list 45 55] \

-hookup_pin [get_pins exclk_rtc_pad/C]

set_dft_signal -view existing_dft -type Reset \

-port rst_in_n -active_state 0 \

-hookup_pin [get_pins rst_in_n_pad/C]

set_dft_signal -view spec -type ScanEnable -port scan_en -active_state 1

set_dft_signal -view spec -type TestMode -port scan_mode -active_state 1


#chain0
set_dft_signal -view spec -port misoi -type ScanDataIn \

-hookup_pin [get_pins misoi_pad/C] \

-hookup_sense non_inverted

set_dft_signal -view spec -port mosio -type ScanDataOut \

-hookup_pin [get_pins mosio_pad/I] \

-hookup_sense non_inverted


set_scan_path chain0 -view spec -scan_data_in misoi -scan_data_out mosio


set_dft_signal -view spec -type TestData -port clk -hookup_pin [get_pins clk_pad/C]
set_dft_signal -view spec -type TestData -port rst_in_n -hookup_pin [get_pins rst_in_n_pad/C]
set_dft_signal -view spec -type TestMode -port scan_mode -hookup_pin [get_pins scan_mode_pad/C]


set_autofix_configuration -type clock -control_signal scan_mode -test_data clk

set_autofix_configuration -type set -control_signal scan_mode -test_data rst_in_n

set_autofix_configuration -type reset -control_signal scan_mode -test_data rst_in_n

create_test_protocol -capture_procedure multi_clock

autim

DFT 是离散傅里叶变换吗

guozhujun1

不是，是design for test的意思！

eeares

连个图都没有，谁知道怎么解决。

muylor

在Tmax中打开GUI， 分析一下S1 violation.

muylor

SE 端应该是111， 现在是XXX，你顺着往前找吧。

guozhujun1

SE 端应该是111， 现在是XXX，你顺着往前找吧。
muylor 发表于 2013-1-6 17:11

                               
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SE端是111，是scan_en,DFT设计的使能端，图上就有！

eeares

RETN是个什么pin？RN和SN都是低有效？

muylor

回复 7# guozhujun1


    reg_reg_7 这个寄存器的SE端图上没看出来111，如果你确认是111 那就ok。
还有就是楼上说的RETN是什么功能信号呢，XXX是否影响寄存器的Scan功能。

guozhujun1

RETN是个什么pin？RN和SN都是低有效？
eeares 发表于 2013-1-7 11:27

                               
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Cell Description
The SDFFSR cell is a positive edge-triggered, static D-type flip-flop with scan input (SI),active-high scan enable (SE), and asynchronous active-low reset (RN) and set (SN). Set (SN) dominates reset (RN).