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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › 后端设计 › 后端资料区 › 数字VLSI电路测试技术一BIST方案
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查看: 1661|回复: 6

[资料] 数字VLSI电路测试技术一BIST方案

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linxicao
发表于 2012-11-24 13:02:30 | 显示全部楼层 |阅读模式

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数字电路测试
测试, 电路

数字VLSI电路测试技术一BIST方案.pdf

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明月在树梢
发表于 2013-3-12 11:32:53 | 显示全部楼层
怎么什么都没有
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wwwxxxjjj1
发表于 2013-3-19 09:06:37 | 显示全部楼层
顶一个 正在做这方面得研究报告 准备发表论文在SCI上面
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feiyefeiye
发表于 2013-3-27 14:16:52 | 显示全部楼层
下一个看看
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iNostory
发表于 2018-1-1 15:50:19 | 显示全部楼层
回复 1# linxicao


   good reference for me.
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Desingman
发表于 2018-1-20 21:53:19 | 显示全部楼层
怎么什么都没有
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200728015127036
发表于 2018-1-23 15:28:27 | 显示全部楼层
不错的资料，谢谢！
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