ESD Test Method讨论

阿基里奥斯

参考“ESD Test Methods on Integrated Circuits_an_Overview”。

ESD test method有四种：
VDD - VSS
PIN  - VDD
PIN  - VSS
PIN  - Other Pins (其他所有PIN都连接在一起）

我的问题是：

1）为什么没有Pin-Pin的test？是由于测试量太大，而折中设计了以上的方法么？
我觉得Pin-Pin的测试，在其他条件相同的情况下，比Pin-Other pins的方式，更加严格。但组合方式太多了。

2）如何界定VDD
比如，现在有些Analog block集成到SOC上，那么它的一些电源Pin算是VDD呢，还是算作PIN呢？有什么影响。

欢迎大家参加讨论!

duduxy

1. pin-other pins 包括了pin to pin
2. 还是vdd吧

jery_cn

应该所有你定义的power都是VCC吧。ESD测试里面只有VCC/VSS/IO IO包括analog/digital

soldierxfm

参考“ESD Test Methods on Integrated Circuits_an_Overview”。

ESD test method有四种：
VDD - VSS
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阿基里奥斯 发表于 2012-10-5 11:20

                               
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    1,你是对的。
    2，没遇到过多电源的，我认为多电源PIN 要分开测，每个电源都要测，

lanlan860207

(不同的电源采用如下组合)
ALL other PIN  - VDD1
ALL other PIN  - VDD2
ALL other PIN  - VDD3
(不同的地采用如下组合)
ALL other PIN  - VSS1
ALL other PIN  - VSS2
ALL other PIN  - VSS3

PIN  - Other Pins (其他所有PIN都连接在一起）---考虑实际PIN脚太多导致时间太长和成本很高，则简约为此种方式

sh_0119

1，lz所指的pin to pin应该是指one pin to one pin吧？one pin to one pin确实比pin to other pin严苛
pin to other pin测试确实就是pin to pin测试，这是一种折中设计考量，在一个较大的设计中，pin脚可以多达5,6百个，如果任意两个脚之间都要进行测试的话，整个测试成本可以拖垮一个小公司，而且也没有公司愿意去承担这样的成本。所以折中测试，可以大大的缩减成本

2，名字肯定还是vdd，这个就看你设计spec中对模拟电源的定义了，高噪声级别的话单独作为电源pin来看（隔离），低噪声级别的话此analog power可以作为digital domain的一个pin来使用。

archillios

感谢楼上各位！

eleven1902

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gubels

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lhtlht888

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