ATE上使用的pattern如何产生？

船长之王

我根据TetraMax的手册使用run atpg -auto（参照手册里的一篇脚本模板）产生的pattern后，直接使用nc生产的vcd文件给ATE，但是发现有很多问题。
不知道大家一般都是怎么做的，谢谢指教！

chris_li

这位兄台，ATPG Scan可以生成.WGL Pattern,把这个pattern丢给专用软件就可以自动转成Target ATE format，而无需再通过NC生成VCD，这个软件一般是专门为ATE设计使用的。而对于你要测试的功能类pattern，似乎目前只能通过NC生成VCD再转，而且需要人为参与比较多，后期的调整是经常的。

船长之王

感谢chris_li的答复。

再请教一下你说的ATPG Scan是值TetraMax的命令还是DFT Compiler的命令，或者是别的什么？
另外你所说的将pattern丢给专用软件，是否这个软件一般会由ATE那边的人员提供这些服务？
最后，如果这个pattern直接给ATE，它的期望值是如何得到的？它总是需要通过调入netlist和测试向量，再通过仿真才能得到吧。这一步是在哪里实现的？

谢谢！

chris_li

再请教一下你说的ATPG Scan是值TetraMax的命令还是DFT Compiler的命令，或者是别的什么？
A：ATPG Scan不是命令，我是拿scan chain做ATPG为例说明，生成pattern的环节在TeraMax做。
另外你所说的将pattern丢给专用软件，是否这个软件一般会由ATE那边的人员提供这些服务？
A：软件有的是是ATE公司自己研发的，也有可能是第三方软件公司开发的，总之你如果租用可能会有license费产生。你计划使用那个tester啊？
最后，如果这个pattern直接给ATE，它的期望值是如何得到的？
A：Pattern本身是Stimulus和Expected Response的集合，期望值已经在pattern里了，Program会将Stilmulus灌如IC，期望值会被调到Compare的memory里等待和Output比对！
它总是需要通过调入netlist和测试向量，再通过仿真才能得到吧。这一步是在哪里实现的？
A：不要担心仿真，TeraMax可以生成STIL的VerilogTestbench(.v)和Vector(.pos,.pis)供你仿真使用

risccpu

chris_li的回答很精彩，牛人啊

clifming123

niuren

towcar

受教！

谢谢！

magicball

Use VTRAN to convert ATPG WGL pattern to Aglient 93K format

liuyunwujia

我们公司通常是自己使用PERL来转换VCD或者STIL文件的,
但是转换的程序不通用

stevelu1966

I always use VTRAN to convert the WGL scan and VCD function pattern to any kind of ATE test platform, It is hard to write the PERL for the pattern conversion,