DFT-ATPG 怎么产生有don't care bits的test pattern?

HOLLYSMOKE

我想对ISCAS‘89 benchmark产生含有x（don't care bit）的test pattern。我用Fastscan是不行的，因为根据它的Process Guide, Fastscan会自动compact test patterns. 我还试了ATALANTA, 它可以产生带x的pattern, 但是那是“ n test patterns for each fault （n>=1） ”，因此数量巨大！我该怎么样才能产生数量不大，但又含有x的pattern呢？
谢谢了！