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本帖最后由 l241025097 于 2012-8-6 21:09 编辑
根据Razavi的书,由器件上的理论推导得出来的阈值电压表达式为:
经典的阈值电压公式
(1)
而在《MOSFET MODELING & BSIM3 USER’S GUIDE》这本书中,给出了一个用温度描述阈值电压的模型:
(2)
利用(2)和我们手里工艺库的参数,即可用spice对阈值电压进行温度分析的仿真。
对于L的温度系数KtL,通常都很小,一般都忽略掉,根据 I. M. Filanovsky 和 Ahmed Allam 的《Mutual Compensation of Mobility and Threshold Voltage Temperature Effects with Applications in CMOS Circuits》这篇文章,当没有体效应时,(1)中VTH0对温度T求导得到的阈值电压温度系数,即为(2)中的Kt1。从而VTH0可以写成一个与温度成线性关系的表达式。我把这个结论当做对(2)在VBS=0时的解释。
但是,当考虑到存在体效应时,(2)中的Kt2*VBS从何而来?是单纯的对(1)中与体效应相关的那部分求导吗?就算是通过求导,也得有数据来总结和说明为什么是Kt2*VBS吧。我现在在此求助,望哪位大牛能说明(2)的来源或者给出出处。
《MOSFET MODELING & BSIM3 USER’S GUIDE》中提到(2)时给出的参考文献:《BSIM3 Manual (Version 2.0)》和《BSIM3 version 3.1 User’s Manual》都只是提到,也没有详细说明。而《Modeling temperature effects of quarter micrometer MOSFETs in BSIM3v3 for circuit simulation》这篇文章,我们学校的资源有限,下不到,谁能给我传一个我也感激不尽~~
我相信对这个问题的讨论并理解是能帮助大家一起提高的。 |
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