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[求助] sentaurus sdevice应变PMOS电学特性仿真?

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发表于 2012-7-27 14:35:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

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现在正在进行硅基应变PMOS电学特性仿真,可是尝试了几乎所有的模型和方法,经分析发现应变后能带有所变化,迁移率有微小变化,但其中最重要的一项空穴的有效质量没有发生变化,更改模型人就无用,请问有哪位大神知道是怎么回事吗?万分感谢!
发表于 2014-10-13 16:42:51 | 显示全部楼层
同问:
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