一般的电源IC产品，CP和FT良率要达到多少才算正常啊

zgg · 发表于 2012-7-26 05:28:09

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例如常压和高压的LDO和DC-DC，谢谢！

jamesccp · 发表于 2012-7-26 16:44:31

这类面积比较小的产品，良率应该很高才行，起码97%以上吧？

zgg · 发表于 2012-7-26 18:34:20

这类面积比较小的产品，良率应该很高才行，起码97%以上吧？
jamesccp 发表于 2012-7-26 16:44

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最终的良率是CP和FT良率两者的乘积，所以分摊开来的话要CP和FT的良率各98.5%，是这个意思吗？谢谢！

semico_ljj · 发表于 2012-8-10 10:35:08

99%以上

liuxufeishuang · 发表于 2012-8-20 00:10:06

CP好的在99%，一般97%就可以了，FT的要差点，大于等于95%可以量产了。

zgg · 发表于 2012-8-25 04:40:33

谢谢大家，明白了

andy2000a · 发表于 2012-8-25 08:09:20

不對

一般 ft  yield 很高  因為 cp 砍很多 ..

FT 如沒 test mode
一般analog ic 只能測 function .
很多是 cp 載多點
一般要求 FT > 97%
CP  87~92 ..
如果 cp > 95會好些 ..寧可誤砍也不能誤放,  CP test會比 datasheet 更嚴

zgg · 发表于 2012-9-9 04:20:11

不對

一般 ft  yield 很高  因為 cp 砍很多 ..

FT 如沒 test mode
一般analog ic 只能測 function .
很多是 cp 載多點
一般要求 FT > 97%
CP  87~92 ..
如果 cp > 95會好些 ..寧可誤砍也不能誤放,  CP test會比 datasheet 更嚴

说法不一啊，迷惑了求真相

semico_ljj · 发表于 2012-9-9 13:07:33

最后能到97~98就可以基本接受！
最好能99以上

andy2000a · 发表于 2012-9-10 13:56:14

應該說對某些IO PIN 少 analog  <8 pin ,
FT 無法測到內部  ..  bandgap  clock .. 都在CHIP內
CHIP 外只有 gate ..

有些ANANLOG IC
cp  + test PAd 會測完很多PATTERN
FT  因為測不到當然只能測其他FUNCTION

反過來, 有些SOC  會在FT 後 ,
test mode  test .

CP 反而測不多

端看你產品.
畢竟量產FT 過才是真的你還有得保證測過是OK.

1.  CP  砍很多 FT前不用包太多顆.. + FT
2. CP 砍很少  -> FT 測很多但是可能包到一堆壞DIE

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