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[活动] 每日一题0705

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发表于 2012-7-5 10:46:35 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 vipjph 于 2012-7-6 08:50 编辑

1、化简代码使硬件尽可能少:





  1. always@ (sel or a or b or c)
  2. if(sel)
  3.   y=a+b;
  4. else
  5. y=a+c;



复制代码

2、什么是DFT?
3、用传输门和反相器实现电平触发器和边沿触发器。
欢迎大家积极回帖讨论,最佳答案者30信元奉上~~~
最佳答案明天揭晓~~
----------------------------------------------答案揭晓----------------------------------------
谢谢大家的参与。现将答案整理如下:

1、





  1. always@ (sel or b or c or a)
  2. begin
  3. if(sel)
  4.    temp=b;
  5. else
  6.    temp=c;
  7. y=temp+a;
  8. end



复制代码

随着工具优化功能的日益强大,这个小逻辑工具可以完成优化。

2、
DFT (design for test)可测性设计是指设计人员在设计系统和电路的同时,考虑到测试的要求,通过在
芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可控制性和可观测性)的硬件逻辑,增加一定的硬件
开销,获得最大可测性的设计过程。

3、
2.JPG
eetop_cn_A034222B2FB7455F9BDDDF6760F1A062.jpg
以上答案均来源于网络及回帖整理,如感觉答案不妥,欢迎批评指正~~
发表于 2012-7-5 11:16:18 | 显示全部楼层
第一题:
assign temp=sel? b:c;
assign y= temp+a;
发表于 2012-7-5 11:19:02 | 显示全部楼层
DFT (design for test) 可测试性设计是电路和芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可控制性和可观测性)的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。
三种常见的可测性技术:扫描路径设计(Scan Design),内建自测试,边界扫描测试.
发表于 2012-7-5 18:05:22 | 显示全部楼层
To 樓主,
第一題的 sensitivity list 少了一個 a

To matrx,
你第一題這樣改硬件並不會變少,這兩種寫法跑完 Synthesis Tool 之後的結果應該是一樣的。
发表于 2012-7-5 19:23:50 | 显示全部楼层
always@ (sel or b or c)
begin
if(sel)
   temp=b;
else
temp=c;
y=temp+a;
end   //这是第一题的
发表于 2012-7-5 20:09:04 | 显示全部楼层
本帖最后由 fiysben 于 2012-7-5 20:10 编辑

1. 不是很懂什么意思。这个写法跟稍微化简的写法其实综合出来就那么点电路,工具会优化的呀,也没有减少硬件直说的应该;

2. DFT即design for test。主要是用来将来芯片流出来之后做测试用的。在前端设计代码里加入一些DFT的语句,不影响功能,不过能为后来的测试提供很大的方便。也有的可以直接在网表中插。通过插入到dft,达到快速有效的测试。对DFT来说,面临几个问题,如存储器的测试、IP中的兼容问题、覆盖率等。

3.触发器如图: A034222B2FB7455F9BDDDF6760F1A062.jpg
发表于 2012-7-5 22:18:36 | 显示全部楼层
不错的解法,学习下
发表于 2012-7-5 22:51:18 | 显示全部楼层
第1题赞成matrx,现在工具的优化功能比较强大,这个小逻辑工具应该是可以优化的。但设计人员应该明白这两种写法导致的电路区别。
DFT是可测性设计,在综合后的网表上进行。主要是在形成产品前,检测出因为生产工艺线导致的错误芯片,避免后期召回而付出高昂的成本代价。
第3题基本接触不到,打打酱油
发表于 2012-7-6 02:25:48 | 显示全部楼层
DFT  离散傅里叶变换
发表于 2012-7-6 08:07:11 | 显示全部楼层
回复 1# vipjph


  DFT  数字电路中的概念,,中文叫 可测性设计
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