每日一题0705

vipjph

1、化简代码使硬件尽可能少：

   

        

            
1. 
   
2. always@ (sel or a or b or c)
   
3. if(sel)
   
4.   y=a+b;
   
5. else
   
6. y=a+c;
   
7. 
           

   

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2、什么是DFT？
3、用传输门和反相器实现电平触发器和边沿触发器。
欢迎大家积极回帖讨论，最佳答案者30信元奉上~~~
最佳答案明天揭晓~~
----------------------------------------------答案揭晓----------------------------------------
谢谢大家的参与。现将答案整理如下：
1、

   

        

            
1. 
   
2. always@ (sel or b or c or a)
   
3. begin
   
4. if(sel)
   
5.    temp=b;
   
6. else
   
7.    temp=c;
   
8. y=temp+a;
   
9. end
   
10. 
            

   

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随着工具优化功能的日益强大，这个小逻辑工具可以完成优化。

2、
DFT (design for test)可测性设计是指设计人员在设计系统和电路的同时，考虑到测试的要求，通过在
芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，增加一定的硬件
开销，获得最大可测性的设计过程。

3、


以上答案均来源于网络及回帖整理，如感觉答案不妥，欢迎批评指正~~

matrx

第一题：
assign temp=sel? b:c;
assign y= temp+a;

matrx

DFT (design for test) 可测试性设计是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。
三种常见的可测性技术:扫描路径设计(Scan Design),内建自测试,边界扫描测试.

patrickchen

To 樓主，
第一題的 sensitivity list 少了一個 a

To matrx,
你第一題這樣改硬件並不會變少，這兩種寫法跑完 Synthesis Tool 之後的結果應該是一樣的。

wjb158

always@ (sel or b or c)
begin
if(sel)
   temp=b;
else
temp=c;
y=temp+a;
end   //这是第一题的

fiysben

1. 不是很懂什么意思。这个写法跟稍微化简的写法其实综合出来就那么点电路，工具会优化的呀，也没有减少硬件直说的应该；

2. DFT即design for test。主要是用来将来芯片流出来之后做测试用的。在前端设计代码里加入一些DFT的语句，不影响功能，不过能为后来的测试提供很大的方便。也有的可以直接在网表中插。通过插入到dft，达到快速有效的测试。对DFT来说，面临几个问题，如存储器的测试、IP中的兼容问题、覆盖率等。

3.触发器如图：

zhanqing1215

不错的解法，学习下

z-z-m

第1题赞成matrx，现在工具的优化功能比较强大，这个小逻辑工具应该是可以优化的。但设计人员应该明白这两种写法导致的电路区别。
DFT是可测性设计，在综合后的网表上进行。主要是在形成产品前，检测出因为生产工艺线导致的错误芯片，避免后期召回而付出高昂的成本代价。
第3题基本接触不到，打打酱油

bbbenjamin

DFT  离散傅里叶变换

15215127296

回复 1# vipjph


  DFT  数字电路中的概念，，中文叫 可测性设计