【已解决】EM能力

ppseuradio1 · 发表于 2012-4-11 12:53:45

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

本帖最后由 ppseuradio1 于 2012-4-12 11:25 编辑

EM，好多地方看多这个名词，不知道是什么啊，查了好久没查到，求解释呀，谢谢了

王不动 · 发表于 2012-4-11 15:03:51

本帖最后由王不动于 2012-4-11 15:09 编辑

IC内部一般采用金属薄膜来传导工作电流——称为互连引线。随着芯片集成度的提高，互连引线变得更细更薄，电流密度越来越大。当电子流过金属线时，将同金属线的原子发生碰撞，碰撞导致金属的电阻增大，并且会发热。但是在一定时间内如果有大量的电子（大电流密度）同金属原子发生碰撞，金属原子就会沿着电子的方向进行流动，这种现象就是电迁移（EM)。
电迁移能使IC中的互连引线在工作过程中产生断路或短路，从而引起IC失效。其表现为：
①在互连引线中形成空洞，增加了电阻；
② 空洞长大，最终贯穿互连引线，形成断路；
③ 在互连引线中形成晶须，造成层间短路：
④ 晶须长大，穿透钝化层，产生腐蚀源。

为了避免电迁移效应，可以增加连线的宽度，以保证通过连线的电流密度小于一个确定的值。
通常EM效应引起的问题是电源网格电阻增加，从而导致IR降增加，从而影响电路时序。

抄来的供楼主参考一下

damonzhao · 发表于 2012-4-11 15:06:48

EM(electromigration): 对于作为互连线的金属层来说，在一定的制造工艺下，它所能通过的最大电流是有一定限度的，否则，过大的电流就会将金属连线断裂，这种由于电流引起的失效现象称为EM

morrisgu · 发表于 2012-4-11 16:48:33

powerEM: power net上的
signalEM：signal net上的，40nm以下的最好跑一下

ppseuradio1 · 发表于 2012-4-12 11:23:45

谢谢各位~~

ppseuradio1 · 发表于 2012-4-12 11:24:34

谢谢各位的解答~~

sijia082 · 发表于 2014-8-20 15:12:09

回复 2# 王不动

受教了，非常感谢分享

zenoone · 发表于 2014-8-20 16:23:47

回复 4# morrisgu

请问你做过singal EM 分析吗？跟power em分析有啥不同？如果有问题的话，是不是也是把信号线变宽？听说可以加buffer可以解决singal em?

jack12liang · 发表于 2014-9-10 14:06:15

非常感谢！

icfbicfb · 发表于 2014-9-10 14:45:01

widen wire可以解决em问题，

[求助] 【已解决】EM能力

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

相关帖子

点评

浏览过的版块

站长推荐 /2