test_mode和scan_enable问题的疑惑？

helanshan_icer

回复 10# eipmca2011
在design中设计一组寄存器，可以包含scan_mode，opcg_enable, scan_compression等，这组寄存器可以在function模式下通过SPI，CPU等方式写入。如果scan_mode被置为1，则芯片进入scan模式。需要注意的是 1. 这组寄存器不能在scan链中，2. scan reset不能reset这组寄存器，3. 这组寄存器的数据端在scan模式下接Q端，保持寄存器的值不变。
通过这种方式，可以节约scan_mode，opcg_enable, scan_compression这3个pin

eipmca2011

言之有理。ATE上或许可以用初始化pattern通过spi写这组寄存器，不明白ATE上如何操作cpu写寄存器。各种scan mode及mbist是没必要专门的pin,内部寄存器控制就可以了，写这组寄存器倒是又不同方式