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[讨论] 亚阈值的参数测试问题

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发表于 2012-3-8 11:17:24 | 显示全部楼层 |阅读模式

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小弟有几个问题不是很明白：亚阈值公式是：Id=Id0*（W/L）*EXP(Vgs/nVt)
但是Id0和n都不受(W/L)影响，那是不是就是说在Vgs确定的情况下，Id与(W/L)成线性关系？
当我求亚阈值某个MOS管的宽长比时，是不是扫描下(W/L)与Id关系，在Id已知的情况下，就可以直接求出W/L？

参数, 亚阈值

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