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[讨论] 亚阈值的参数测试问题

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发表于 2012-3-8 11:17:24 | 显示全部楼层 |阅读模式

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小弟有几个问题不是很明白:亚阈值公式是:Id=Id0*(W/L)*EXP(Vgs/nVt)
                                       但是Id0和n都不受(W/L)影响,那是不是就是说在Vgs确定的情况下,Id与(W/L)成线性关系?
                          当我求亚阈值某个MOS管的宽长比时,是不是扫描下(W/L)与Id关系,在Id已知的情况下,就可以直接求出W/L?
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