数字金属改版造成的scan chian测试问题

sweeting · 发表于 2012-3-5 11:54:28

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本帖最后由 sweeting 于 2012-3-6 13:43 编辑

数字部分金属改版，tmax及tmax simulation都没有问题，但是测试厂的scan chain 的test pattern 过不去，请大家帮忙分析下？（功能测试通过了）

后来，没有办法，使用了add_capture_masks几个cell，可以通过了，但不知道什么原因。

tmax simulation 过了，能保证测试厂也过吗？

如果不能保证，那金属改版投片之前，怎么保证改版是否影响了scan chain，将来测试能否通过啊？（除了工艺制造问题）

add_capture_masks 表示不测试这几个cell吗？

[求助] 数字金属改版造成的scan chian测试问题