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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 多年收集的SCAN和MBIST测试资料
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楼主: formyideal

[原创] 多年收集的SCAN和MBIST测试资料

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jimcmwang
发表于 2012-5-13 18:01:14 | 显示全部楼层
希望有帮助!!!!!
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kevin_know
发表于 2012-6-14 14:28:48 | 显示全部楼层
Thanks.
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libinggl
发表于 2012-6-25 21:19:13 | 显示全部楼层
多谢楼主
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dandan58
发表于 2012-6-28 14:17:37 | 显示全部楼层
希望有用啊，需要消耗不少信元呢
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peter_wx
发表于 2012-6-29 15:03:56 | 显示全部楼层
good share
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pingxuyufeng1
发表于 2012-8-13 21:29:57 | 显示全部楼层
zai 学习
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cathy_li
发表于 2012-8-16 14:52:46 | 显示全部楼层
学习学习
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lyu
发表于 2012-8-29 11:17:20 | 显示全部楼层
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shengyepeng10
发表于 2012-8-29 16:51:13 | 显示全部楼层
谢谢大虾！！！！:)
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shengyepeng10
发表于 2012-8-29 16:51:54 | 显示全部楼层
好像老了点，还是看看吧
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