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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 多年收集的SCAN和MBIST测试资料
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楼主: formyideal

[原创] 多年收集的SCAN和MBIST测试资料

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long0607
发表于 2013-8-3 20:45:29 | 显示全部楼层
多年的資料謝謝你囉
感謝你的寶貴資料
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transsummit
发表于 2013-8-4 14:30:41 | 显示全部楼层
信元不够，不过还是谢谢所共享的资料~~
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helloday
发表于 2013-8-5 09:25:29 | 显示全部楼层
东西年龄大
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wwwknown
发表于 2013-8-27 09:47:06 | 显示全部楼层
ppt资料不错
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tingtang
发表于 2014-7-8 08:50:51 | 显示全部楼层
好像老了点，还是看看吧
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sunguang216
发表于 2014-7-9 11:29:50 | 显示全部楼层
不错，可以使用 谢了
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zhangchenyang
发表于 2014-7-18 22:31:42 | 显示全部楼层
谢谢分享
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caicai456
发表于 2015-10-29 09:36:48 | 显示全部楼层
感谢分享资料
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