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[求助] 求助热心同学下载一些IEEE论文

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发表于 2011-11-17 10:24:02 | 显示全部楼层 |阅读模式

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求助热心同学下载以下几篇IEEE论文,本人表示不甚感激。如有兴趣,我们可以一起展开讨论。
1.Electrical current measurement based on Joule heating of micro-resistors
2. Joule heating effects on electromigration in Cu/low-κ interconnects
3.Investigation of joule heating effect in various stages of failure in flip-chip solder joints under accelerated electromigration
4.Numerical calculation of electromigration under pulse current with Joule heating
 楼主| 发表于 2011-11-17 11:39:42 | 显示全部楼层
up up up!!!
发表于 2011-11-17 11:58:58 | 显示全部楼层
Electrical current measurement based on Joule heating of micro-resistors

Electrical current measurement based on Joule heating of micro-resistors.pdf

239.96 KB, 下载次数: 3 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2011-11-17 12:01:08 | 显示全部楼层
Joule heating effects on electromigration in Cu/low-κ interconnects

Joule heating effects on electromigration in Culow-κ interconnects.pdf

390.69 KB, 下载次数: 3 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2011-11-17 12:04:14 | 显示全部楼层
Investigation of joule heating effect in various stages of failure in flip-chip solder joints under accelerated electromigration

abbr_d751136b11aad1ed892941b7de97d22a.pdf

1.68 MB, 下载次数: 3 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2011-11-17 12:06:17 | 显示全部楼层
Numerical calculation of electromigration under pulse current with Joule heating

Numerical calculation of electromigration under pulse current with Joule heating.pdf

259.13 KB, 下载次数: 9 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2011-11-17 12:07:24 | 显示全部楼层
不太懂这块内容,lz研究器件吗?
 楼主| 发表于 2011-11-17 14:38:03 | 显示全部楼层
其实,这只是为了研究metal/poly做连接时对电流应力的影响,简单的说,布线宽度多少比较合适的问题。
我估计大多数国内的designer都知道走线承受电流能力在DC下的简单计算,但是AC电流的应力如何考虑呢?
我们通常采用平均AC电流,和均方根电流来做计算区确定走线宽度。其中,均方根电流连接线发热导致开路等失效的原理就是Joule heating current,通常要大于AC平均电流。我看到很多designer知道在仿真的时候标准一下peaking current,但是peaking to up的电流承受能力并不能直接对比DC Current Density,需要做AC Current Density分析+15%Margin。尤其是VDD,VSS这类重要的走线宽度。
发表于 2012-3-30 20:09:29 | 显示全部楼层
好资料,下来学习
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