DFT问题求助

shaoqingtju · 发表于 2011-11-14 11:47:44

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刚接触DFT，有很多问题，向板上大牛们请教，使用mentor的工具进行扫描连插入，是多时
钟电路，因此会插一个锁存器，现在问题由于锁存器插入，那么现在电路在扫描时应该具
有时序特征了吧，那么是不是在使用fastscan生成test pattern时不能用默认的basic
pattern，而应该使用sequential pattern呢，我个人理解是。不知道理解对不对，请问大
牛，非常感谢。
另外是对整个电路进行DFT，那么就应该先生成BIST电路，重新综合后再进行scan chain
inserion吗？我理解是需要这样，要不BIST电路无法被覆盖。
初接触DFT，问题比较初级，请板上大人不吝赐教，非常感谢

my2817 · 发表于 2011-11-19 18:11:54

先顶你，我还在自学

ln76wlguo · 发表于 2011-11-20 19:32:58

做了几年，想过这个问题。自己做个试验看看

bingling512 · 发表于 2011-11-21 10:34:59

1、我没太明白这就话是什么意思“现在问题由于锁存器插入，那么现在电路在扫描时应该具
有时序特征了吧”不过可以肯定的是这个链上的latch不会影响生成的向量是使用basic，sequential还是其它类型的向量。
2、另外如果有mbsit，应该是先做bist设计综合然后做scan。不过我认为这样做的目的不是bist电路不能覆盖（mbsit测试肯定能覆盖这部分电路）。

kingmomo0002 · 发表于 2012-2-22 02:59:18

同意樓上的論點

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