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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Scan Chain Design
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楼主: gangersun

[资料] Scan Chain Design

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jimcmwang
发表于 2018-9-25 02:15:18 | 显示全部楼层
减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf (227.67 KB)
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玉婷yt
发表于 2019-3-13 11:45:10 | 显示全部楼层
谢谢分享
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martin_zheng
发表于 2021-9-13 16:26:04 | 显示全部楼层
感谢分享。
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jimcmwang
发表于 2021-9-19 14:08:03 | 显示全部楼层
减少数字集成电路测试时间的扫描链配置.pdf  227.67 KB, 下载次数: 364 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元
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martin_zheng
发表于 2021-9-23 10:21:30 | 显示全部楼层
感谢分享。
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martin_zheng
发表于 2021-9-27 10:29:31 | 显示全部楼层
感谢分享。
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jw216
发表于 2021-9-27 20:39:55 | 显示全部楼层
谢谢分享
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pxj0557
发表于 2021-10-4 22:39:19 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢分享！！！
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Simpson52
发表于 2022-11-16 13:49:00 | 显示全部楼层
谢谢分享
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david69
发表于 2022-12-13 03:57:24 | 显示全部楼层
好东西，感谢分享!
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