Scan Chain Design

gangersun · 发表于 2011-8-19 11:40:24

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Scan Chain Design，welcome to download

etopyes8 · 发表于 2011-8-19 14:08:06

研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无
关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器, 以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性
来分配一主输入至某一共用扫描寄存器的主输入组, 直至形成一个极大组, 这改进了利用被测电路测试集信息处理同样问题
的方法[1 ]。还分析了在多输出有扇出电路中插入内置扫描单元, 以增大结构无关输入的实现方法。对国际标准电路的实验证
明了该方法是减少数字集成电路扫描测试时间的一条有效途径。

stewart1980 · 发表于 2011-9-6 00:44:49

Thanks for sharing

sun350626 · 发表于 2011-9-18 22:32:37

Thanks

limpsuede · 发表于 2011-10-12 12:47:45

ding!!!!!!

limpsuede · 发表于 2011-10-12 12:49:13

ding!!!!!!!!!

limpsuede · 发表于 2011-10-12 12:50:22

ding!!!!!!!!!

limpsuede · 发表于 2011-10-12 12:50:53

ding!!!!!!!!!

eppur · 发表于 2012-1-20 11:16:19

kankan

rainbow · 发表于 2012-3-8 00:53:25

看看，谢谢分享

[资料] Scan Chain Design

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