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Power Chips Benefit From Final-Test Trim

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发表于 2006-11-6 14:14:05 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Power Chips Benefit From Final-Test Trim

By John Constantopoulos and Walter Nadler,
Product/Test Engineers for Portable Power Management,
Texas Instruments, Freising, Germany

503PET24.pdf

308.48 KB, 下载次数: 125 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2006-11-12 00:01:43 | 显示全部楼层
呵呵,看看先
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发表于 2006-11-12 09:17:36 | 显示全部楼层
正在做Power Chip呢,想做trim,可是国内很多测试厂没有条件!
郁闷!
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发表于 2007-4-22 15:59:02 | 显示全部楼层
我们公司的有条LINE好像做这个测试的
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发表于 2007-4-23 05:06:56 | 显示全部楼层
thanks.
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发表于 2007-4-23 20:00:11 | 显示全部楼层
来自TI的好东东,赞一个!
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发表于 2007-4-25 01:03:31 | 显示全部楼层
thanks for your information.....
thanks.......
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发表于 2007-4-30 23:41:19 | 显示全部楼层
好象还可以,
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发表于 2007-12-3 12:59:45 | 显示全部楼层
為何要做TRIM
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发表于 2007-12-3 13:05:23 | 显示全部楼层

支持楼主

支持楼主
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