Mbist 测试功耗问题

bingling512 · 发表于 2011-7-18 16:56:59

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memory已经按controlor进行了分组，而这些controllor可以独立配置是否启动测试，即在一次测试中可以任意选择某一个，某几个或者全部controllor同时启动进行测试。

如果同时启动mbist测试的memory太多，由于不仅支持at-speed测试，而且还支持full-sped测试，因此测试功耗可能非常大，因此可能造成过杀影响良率。

如果同时启动mbist测试的memory太少，则有可能拆分得过于乐观，从而出现测试pass的芯片在实际使用时fail。

不知道大家在实际测试时有什么好的办法来解决这个问题呢？

ybp1111 · 发表于 2011-7-24 00:33:10

有没有人回答一下呀，咱也跟着学习学习

bingling512 · 发表于 2011-7-28 18:34:20

自己再顶一下，期待高手指点。。。。。。。。

david_sung · 发表于 2011-8-19 14:49:53

没太搞懂楼主的意思，可能我们测试的时候没有考虑此方面的问题吧；
我们理解的为什么测试通过而实际使用不过应该还是MBIST的是算法覆盖率造成，不知道楼主的mbist覆盖了哪些算法和失效类型？您说的测试通过而实际使用不过的die大概占多数比例？

gangersun · 发表于 2011-8-24 11:37:58

其实楼主是在阐述芯片memory内部parallel test和芯片功耗的问题吧？

bingling512 · 发表于 2011-8-24 15:35:12

是的，楼上说对了。如果同时并行测试的memory太多，可能会引起较大的功耗，从而引起mbsit 的fail，而实际上memory并没有缺陷。

举个例子，比如一个芯片总共有 100 片memory，（假设其它条件完全一样只是串或并行测试的区别）如果测试时100片同时并行测fail，如果设计时对每个memory都单独加controller，可以串行测每次只测一片pass。这个例子比较极端，实际上也有可能一次50片同时测fail，10片同时测pass的情况。

我的问题是怎么确定一次可以并行测试多少片memory？

david_sung · 发表于 2011-9-5 16:18:55

这个是可以仿的，至少功耗的总和不能大于ATE给的吧

啥日子的猪 · 发表于 2012-5-15 07:22:22

怎么仿？来确定功耗？

chenghaibo · 发表于 2012-11-13 16:00:35

BIST测试功耗与memory正常工作时电路实际的功耗，之间怎么处理？这确实是个很实际的问题。
Mentor 的TessentBIST在生成BIST controller时可以根据每个memory的实际功耗和电路所能承受的功耗，去给bist controller 分组。使得测试时，每一个测试step的功耗都不会超过电路所能承受的功耗。不过每个controller都是顺序被invoke的。

HP_ccyz2012 · 发表于 2013-6-4 15:12:29

顶一个，学习学习

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