Mbist 测试功耗问题

nico0811 · 发表于 2013-7-30 21:31:07

XUEXI,XIEXIE

smmaxl · 发表于 2013-8-2 08:57:13

为什么拆分的太小，会有错误呢。其实只要设置个功耗阈值，自己分一下，每组不超过阈值就好了。

杰克淡定 · 发表于 2016-5-12 19:56:39

就BIST电路本身而言，是没有考虑很多个BIST一起启动，由于功耗太大导致的fail。我觉得可以根据芯片实际应用场景来，最恶劣场景下有多少个sram可能一起工作，这样来启动BIST。

tyhit · 发表于 2016-9-27 14:33:00

遇到一个实际mbist裸片测试的问题：芯片在低压（90%）下有两块memory的mbist测试固定fail，正常电压下能通过测试，但是设计中对全芯片ir drop仿真是按照正常电压下的结果signoff。请问在不改变测试条件的前提下，怎么避免这种mbist测试fail的问题？

Heller_sun · 发表于 2016-10-31 22:21:21

来学习学习

empty_085 · 发表于 2016-11-9 20:26:39

回复 15# tyhit

有可能是margin不够啊，低压下降频能过吧?可以让ATE抓个shmoo出来看趋势。

edwardk · 发表于 2018-11-29 21:37:25

学习中。。。。

fangwang85 · 发表于 2019-3-22 10:30:22

david_sung 发表于 2011-8-19 14:49
没太搞懂楼主的意思，可能我们测试的时候没有考虑此方面的问题吧；
我们理解的为什么测试通过而实际使用不 ...

受教谢谢

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