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发表于 2011-7-16 21:31:46
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本帖最后由 ttder 于 2011-7-16 21:33 编辑
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两个疑问请教一下楼上这位兄弟:
1、为什么两条链测试时间比一条链长呢?如果用两条链,链 ...
bingling512 发表于 2011-7-15 16:55
你这两个时钟,不出意外的话,应该用的都是一个全局reset信号吧? 你现在把它们分为两条链,也就是在测试的时候,他们分别对应不同的test proc。
在整个测试过程中,最长的时间不是shift capture的,而是pll起来以后,再起reset过程的。因为Pll是模拟信号,所以我们最好要等比较长一点时间,让它能稳定下来,这个单位是以毫秒计的,而我们shift, capture才多少时间。都是以为纳秒计的。写两个test proc,那么他就要有两次起pll的过程。你看看你产生pattten的脚本就知道了。所以我说是测试成本增加了。 这是第一。第二,链长越短,确实shift时间减少了,但是整个patten的覆盖率也降低了,同时,patten的数量也也会多了,所以整体时间未必会短。
第二个问题: 一个是外部灌的时钟,一个是Pll产生的时钟。但是我们在shift过程中,肯定是直接用test clock来灌的。 现在问题来了,在capture过程中,我们如何能够选transition下的capture时钟呢,可以用一个介于灌的时钟和pll产生的时钟之间的一个频率的时钟来做这件事情。这个时钟可以外灌 也可以用occ电路选一个,好比外灌的是50mhz, pll的是100mhz,那就选一个75mhz的时钟。或者85的。或者更极端一点,选一个100mhz的时钟做capture,这样无非是某一个频率会高,另外一个会低。但只要相差不大就好,可以在刚开始design 规划的时候就考虑好这个问题。 |
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