两个时钟域DFT应该怎么插入？

irun2

如果设计有两个时钟，一个是内部的PLL产生，一个是可控外部时钟。
在做DFT插入时，是用一个TM信号MUX 外部时钟和PLL，或是分开两条扫描链比较好，一个时钟域一条？

night_cool

推荐一个时钟域一条。但是可以用同一个时钟。就是说，你外部输入一个时钟，用这个时钟做可控时钟的扫描链时钟，然后再把这个PLL的时钟MUX到这个时钟，作为另外一条扫描连的时钟。
你只做一条扫描连的话你的2个时终域需要balance的。这个浪费buffer，不balance为了修hold你还是要加一些buffer，只是加的buffer少得多而已。看你了。2条处理起来无论dc，PR都会轻松很多，qor也会提高很多的。

irun2

回复 2# night_cool


    谢谢！我也是想分开两条链会好很多而且fix hold time vio也容易得多！可惜允许使用的IO有限

lishaojungu

谢谢解答 同问

bingling512

插在一条链上应该是没有问题的，但是时钟必须分开否则不好修capture的timing（如果用同一个时钟，原来两个时钟域之间的异步路径全部变成同步了）。对于shift下面的hold可以在不同时钟域之间加一个latch解决，这个在DC里面有一个配置可以实现。

另外一个疑问，这种结构的电路如何做transition测试呢？感觉stuck-at测试是没问题的，transition好像不太好实现啊。

ttder

如果设计有两个时钟，一个是内部的PLL产生，一个是可控外部时钟。
在做DFT插入时，是用一个TM信号MUX 外部 ...
irun2 发表于 2011-7-12 15:05

                               
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    肯定是一条链了。设计成本中，不光包括芯片面积，测试成本也很重要。两条链的肯定会增加测试时间的。


当用外部时钟代替pll的时候。（dft下），我们来具体分析一下:
  stuck-at下：
      所有的时钟都会在慢速时钟下，所以不存在该问题。
   transition下：
      在fun下的异步时钟到了dft下变成同步了。 我们可以把这两个domain之间的路径设掉。毕竟transition需要的覆盖率比较低，如果不设掉的话，可以看看那些fun下的异步路径是否好修，反正都是些buffer，不会很影响到fun下的路径的。

bingling512

回复 6# ttder
两个疑问请教一下楼上这位兄弟：

1、为什么两条链测试时间比一条链长呢？如果用两条链，链长减半，shift时间减半，感觉测试时间应该会减少。
2、这种PLL输出直接加mux bypass到dft时钟的结构如何进行transition测试呢？shift和capture时钟分别用哪个，如何切换？

ttder

回复  ttder
两个疑问请教一下楼上这位兄弟：

1、为什么两条链测试时间比一条链长呢？如果用两条链，链 ...
bingling512 发表于 2011-7-15 16:55

                               
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    你这两个时钟，不出意外的话，应该用的都是一个全局reset信号吧？ 你现在把它们分为两条链，也就是在测试的时候，他们分别对应不同的test proc。
    在整个测试过程中，最长的时间不是shift capture的，而是pll起来以后，再起reset过程的。因为Pll是模拟信号，所以我们最好要等比较长一点时间，让它能稳定下来，这个单位是以毫秒计的，而我们shift, capture才多少时间。都是以为纳秒计的。写两个test proc，那么他就要有两次起pll的过程。你看看你产生pattten的脚本就知道了。所以我说是测试成本增加了。 这是第一。第二，链长越短，确实shift时间减少了，但是整个patten的覆盖率也降低了，同时，patten的数量也也会多了，所以整体时间未必会短。
    第二个问题： 一个是外部灌的时钟，一个是Pll产生的时钟。但是我们在shift过程中，肯定是直接用test clock来灌的。 现在问题来了，在capture过程中，我们如何能够选transition下的capture时钟呢，可以用一个介于灌的时钟和pll产生的时钟之间的一个频率的时钟来做这件事情。这个时钟可以外灌 也可以用occ电路选一个，好比外灌的是50mhz, pll的是100mhz,那就选一个75mhz的时钟。或者85的。或者更极端一点，选一个100mhz的时钟做capture,这样无非是某一个频率会高，另外一个会低。但只要相差不大就好，可以在刚开始design 规划的时候就考虑好这个问题。

bingling512

回复 8# ttder


    我们atpg工具用的是TK，不知楼上这位兄弟用的是什么工具，感觉兄弟说的很多特性跟我的感觉不一样，不知道是不是工具不同的原因？

atpg我们主要分stack-at和transition，如果内部高频时钟都插了OCC的话，那么不管是stuck-at还是transition用一个testproc就可以了。

1、对于stuck-at，我们完全不会用到，也就不需要等待pll稳定了。另外，根据我的经验，当覆盖率到99%的时候，500链长和300链长其实总的向量条数相差是不大的，肯定不会超过20%（这其中包括 链长变小后压缩比增大的影响）。所以对于stuck-at 链短一些测试时间应该要短一些。

2、对于transition，等待pll稳定的配置放入这个testproc的setup配置一次就OK了。对于相同覆盖率，500链长和300链长总的向量条数也相差不大。所以对于transition链短一些测试时间应该也要短一些。

我之前问PLL输出直接加mux怎么测transition，其实是对于如果PLL输出频率很高比如1GHz，而且是没有加OCC的情况。加了OCC肯定不会有什么问题，如果没加OCC，应该就需要考虑端口灌时钟，但是频率太高端口肯定灌不了1G的时钟，所以我认为在这种不加OCC的情况下应该是测不了transition的，不知道是否还有其它方法来实现？

ttder

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    我们atpg工具用的是TK，不知楼上这位兄弟用的是什么工具，感觉兄弟说的很多特性跟我 ...
bingling512 发表于 2011-7-18 11:42

                               
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    我说的也是tk啊,你看看你的test proc文件，在shift这个动作的时候，是不是先要reset一下。然后等待一段时间，然后再灌数据。
   同样，capture也是一样的。也是reset一下，然后等待一段时间，灌数据。可能我之前表达的不是很清楚，test proc文件是一个，但是针对不同的动作，会有相应的proc里面的函数相对应。
   我说的等待pll的动作，是说，真正在测试机台上的时候，我们每个动作，好比shift动作。capture动作，都是要做一个这样的过程。等待pll起振，发reset，开始灌数据。每个对应的proc文件中的一个函数，好比shift,capture这个函数，都对应了一个这样的动作。（这个是我们公司测试的designer告诉我们的，不知道是否描述正确）。所以我是不建议多一个dft的domain来做这个的。因为很有可能就会多一个函数，并且为此函数产生pattern.
    你说的你们覆盖率能达到99%，所以你们的300条链和500的pattern数量相差不远。我不知道你这时候说的是不是stuck-at的覆盖率。这个我没有研究过，所以不好发表评论，你说的可能是正确的。

    你说的最后一个，就是不用occ如何测transition，我们之前的办法是这样的：

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上面两个信号：都是从同一个Pad上灌入的，好比占空比是1：99， 99：1，频率很低，好比1兆。但是我连续打入的这两个上升沿，可以当做capture的时钟。光看着两个沿的话，可以当做一个高频的时钟。我们以前的design里面没有occ的电路，transition的时钟就是用这种办法灌进去的。