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[求助] 关于calibre做天线效应检查

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发表于 2011-7-11 17:22:04 | 显示全部楼层 |阅读模式

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带有IP模块(一个模块空盒子)的layout用calibre做天线效应检查时,在没有merge好IP模块时,已经修改完了天线效应违背。但到merge好IP模块后再做天线效应检查时,发现又出现天线效应违背现象,这种情况怎么能够避免呢?因为merge IP模块是在流片厂家那里做的,layout已经tapeout。也就是说能在tapeout前考虑到 merge IP模块造成的影响。
发表于 2011-7-11 17:39:02 | 显示全部楼层
首先IP需要有天线模型。
发表于 2011-7-11 19:41:32 | 显示全部楼层
可能是没有merge时没有考虑空盒子的antenna effect violation。
发表于 2011-7-12 08:46:02 | 显示全部楼层
IP 的Lef中有Antenna 信息,再加上Metal Only的GDS(IP Vendor能提供)
发表于 2011-7-12 11:04:16 | 显示全部楼层
是不是Vender 给的Antenna 信息不准确?找他们理论去
发表于 2011-7-12 11:15:44 | 显示全部楼层
可以先自行检查一下box IP的输入端,先将输入连线跳到顶层,或者直接加个diode. 可以规避部分问题。但不是根本解决方法。
 楼主| 发表于 2011-7-14 14:45:13 | 显示全部楼层
用calibre工具时,能用到lef文件里的Antenna 信息吗?
发表于 2011-7-25 16:41:24 | 显示全部楼层
thanks!
发表于 2011-7-26 13:21:31 | 显示全部楼层
一看就是经常IP merge的,

可以自己写一个假的clf 模拟下, 悲观些:

defineGateSize "PF64K17E" "DOUT[1]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "ADDR[0]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "DOUT[12]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "IFREN"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "ADDR[1]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "DIN[3]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "DOUT[11]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "DOUT[10]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "ADDR[3]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "DIN[7]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "SIO_I"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "DIN[10]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "ADDR[4]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "ADDR[10]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "SIO_O"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "ADDR[5]"   0.0792  
defineGateSize "PF64K17E" "DIN[15]"   0.0792
 楼主| 发表于 2011-7-26 16:07:18 | 显示全部楼层
icfbicfb 所说的是在布线时的处理,有时候astro也不能完全查出天线效应的错误,上次我们也试过。我现在想的是能不能在IP merge前,用calibre这些工具把天线效应的错误查出来,这些错误包括IP merge 后有可能产生的错误。
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