在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: 陈涛

[原创] 后端面试--每日一题(048)

[复制链接]
发表于 2014-11-26 14:37:36 | 显示全部楼层
回复 7# joemool
版主 我觉得16楼说的正确;这是我从lib中拿出来的一个反相器:

cell(HDR_IN_1) {
  area :  0.840000 ;
  cell_footprint : IHCF_HDR_IN ;

    leakage_power() {
      related_pg_pin : "VDD" ;
      when : "!I" ;
      value : "4.8471e-05" ;
    }

    leakage_power() {
      related_pg_pin : "VDD" ;
      when : "I" ;
      value : "4.7672e-05" ;
    }
可以看出当输入为0的时候漏电流比输入为1的时候漏电流大,这是因为:
泄漏电流分为四大部分,而其中主要的是亚阈值漏电流,而亚阈值电流是与迁移率成正比的,所以,在输入0的时候NMOS管的亚阈值电流比输入为1的时候PMOS管的亚阈值漏电流大,即导致leakage_power在输入0时比输入1时候大
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-10-9 15:42:45 | 显示全部楼层
高深的问题,学习继续。
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-10-10 10:40:33 | 显示全部楼层
钉钉顶
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2025-8-21 18:03:49 | 显示全部楼层


   
dongkai1003 发表于 2011-7-22 17:09
回复 8# 陈涛


静态功耗不就是看泄漏电流产生的功耗吗

回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-8-29 00:29 , Processed in 0.013778 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表