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查看: 6192|回复: 10

[求助] reset/clk generater 里面的DFF可以串到scan chian上吗

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发表于 2011-6-1 09:40:35 | 显示全部楼层 |阅读模式

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reset/clk generater 里面的DFF,reset同步DFF,分频DFF,这些。。。可以串到scan chian上吗?
不知道串到scan chian上会不会影响function timing?
大家一般怎么做的,讲讲利弊?
发表于 2011-6-2 09:48:29 | 显示全部楼层
共同关注!
发表于 2012-3-9 21:49:41 | 显示全部楼层
一般不串
发表于 2012-7-5 16:05:14 | 显示全部楼层
回复 3# bluray2005


    这样的reset/clock generator 模块里的dff,相对于整个design的比例大概是多少?会降低多少fault coverage,如果不串的话
发表于 2012-7-5 23:43:02 | 显示全部楼层
我们是会做成链的,DFT的逻辑在非测试模式下不影响function,不然就说明有问题。另外DFT后后端也会保证timing,插的一点电路不会影响时序。在测试模式下,寄存器的时钟和复位都会切换到外部输入的测试信号来控制,我觉得这些寄存器没什么特殊的,做进链就行了。
发表于 2012-7-6 09:48:52 | 显示全部楼层
回复 5# supercainiao


    请问你们有用加入scan链的方法正式流片过吗?我一直很困惑这个问题,我们都是不加入的,据说加入scan链中会存在风险,一直不敢尝试。
发表于 2012-7-6 21:21:03 | 显示全部楼层




   有啊。我不清楚所谓的风险是什么,可能得看具体情况吧。一般除了测试电路和个别特殊逻辑,普通的逻辑电路我们都会做进链。
发表于 2012-7-7 10:32:44 | 显示全部楼层
回复 7# supercainiao

谢了
发表于 2012-10-29 16:48:09 | 显示全部楼层
回复 1# ys82


   可以啊 在scan模式下保证这些DFF后面的逻辑是正常的就行
发表于 2014-9-17 15:18:24 | 显示全部楼层
回复 5# supercainiao


    你好,
    我现在的design中clock manager里面会有个loop,如果将clock manager串到scan chain上,在仿真的时候会有X。导致mismatch.
    所以我现在自己加了个divider,从pll的输出经过divider产生高频时钟,然后在这个时钟后面插入occ,测transition.

   但是把divider的reset和其他scan chain上的DFF的reset连到一起,直接拉到top上。
   在产生pattern跑仿真的时候,就会发现divider里的DFF没有先做reset,导致X。
   
   我想请教下,你在做的时候是否遇到类似问题?
   非常感谢!
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