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[讨论] 内建自测试和扫描链测试问题

发表于 2011-5-23 15:49:02 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Q1.请问内建自测试和扫描链测试问题是分开测试还是可以同时测试？
Q2.如果是分开测试，那么应该是先进行内建自测试还是扫描连测试？
Q3.两种测试都是流片后封装前测试额把？
I am new to dft ，欢迎畅所欲言！

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