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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › Fundamental of Testing On ATE
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[原创] Fundamental of Testing On ATE

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gangersun
发表于 2011-5-9 08:51:58 | 显示全部楼层 |阅读模式

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这个资料是我目前见到的最好的测试资料，以J750为原型讲的。
Logic, mixed, test

Fundamental Of Testing On ATE.pdf

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molteza
发表于 2011-5-9 13:04:40 | 显示全部楼层
thanksss dear..
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vlsinaresh
发表于 2011-5-9 13:53:43 | 显示全部楼层
good dear
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risccpu
发表于 2011-5-13 11:57:44 | 显示全部楼层
good.
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mingrenyc
发表于 2011-5-14 09:32:50 | 显示全部楼层
学习了，谢谢版主
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risccpu
发表于 2011-5-22 09:54:14 | 显示全部楼层
good.
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lodestar6666
发表于 2011-6-5 12:46:37 | 显示全部楼层
3xxxxxxxxxx
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ouyds001
发表于 2011-6-7 15:44:24 | 显示全部楼层
谢谢楼主！
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fayfay521
发表于 2011-6-8 13:39:35 | 显示全部楼层
多谢分享~
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flowering97
发表于 2011-6-17 16:57:17 | 显示全部楼层
看看吧
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