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[资料] 完整版Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems

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发表于 2011-3-23 13:51:28 | 显示全部楼层 |阅读模式

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此书为影印版,中文名称为《数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计》。此前论坛上发布的这本书只是书中节选的图表汇总,今日偶得此书全貌,不敢独享,发上来供有需要者取之.

两个附件,一个PDF格式,另一个DJVU格式,请各取所需

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(PDF).zip

5.09 MB, 下载次数: 457 , 下载积分: 资产 -3 信元, 下载支出 3 信元

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(DJVU).zip

4.2 MB, 下载次数: 110 , 下载积分: 资产 -3 信元, 下载支出 3 信元

发表于 2011-3-23 17:59:02 | 显示全部楼层
谢谢分享!
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发表于 2011-3-23 18:57:53 | 显示全部楼层
good, thanks.
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