完整版Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems

q_t_y · 发表于 2011-3-23 13:51:28

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此书为影印版，中文名称为《数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计》。此前论坛上发布的这本书只是书中节选的图表汇总，今日偶得此书全貌，不敢独享，发上来供有需要者取之.

两个附件，一个PDF格式，另一个DJVU格式，请各取所需

creese · 发表于 2011-3-23 17:59:02

谢谢分享!

risccpu · 发表于 2011-3-23 18:57:53

good, thanks.

[资料] 完整版Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems