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楼主: pipiw

[资料] [ebook]Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits

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发表于 2011-3-10 09:37:48 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2011-3-15 12:37:15 | 显示全部楼层
thanks!!!!!!!
发表于 2011-3-15 13:13:31 | 显示全部楼层
thanks a lot.
发表于 2011-3-16 09:23:11 | 显示全部楼层
good book for learning testing
发表于 2011-3-30 16:24:48 | 显示全部楼层
thanks!!!!!!!!!!
发表于 2011-3-31 08:55:53 | 显示全部楼层
手邊的是掃描版..但是還是謝細嘞
发表于 2011-6-5 10:10:13 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2011-6-5 12:16:38 | 显示全部楼层
很好,谢谢!
发表于 2011-9-5 13:29:27 | 显示全部楼层
thanks for sharing!!!!!!!!!!!!
发表于 2011-9-6 00:15:39 | 显示全部楼层
thanks for shraing
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