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查看: 2638|回复: 2

[求助] 关于芯片调试中JTAG的问题(硬件篇)

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发表于 2010-12-31 15:25:51 | 显示全部楼层 |阅读模式

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各位,请问下:
我在一款带ARM的Soc测试中,发现JTAG时序可能存在问题,测试代码如下:
    AREA    Startup, CODE, READONLY
PRESERVE8
    ENTRY
   
    b test
    nop
    nop
    nop
    nop
    nop
    nop
    nop
    nop
   
test   
    mov  r0,#0
    mov  r1,#0
    add  r0,r0,#1
    add  r1,r1,#1
   
dead
b dead

    END

    程序链接到0地址。
   
    正常的执行流程应该是r0,r1自加1后进入死循环,点击暂停后PC应该指向b dead.
   
    在测试中点击AXD的run,程序开始执行,点击暂停后,PC却指向了add r1,r1,#1。结果就是每一次暂停后全速运行,r1就自加1。

    分析可能是在芯片设计中JTAG时序存在问题,在halt内核时影响了PC值。请大牛们,能帮忙分析下大概是JTAG哪里出现问题了?并求测试和解决方法,谢谢!
发表于 2011-2-8 21:40:16 | 显示全部楼层
验证工程师跑一下时序仿真可能可以发现点什么
发表于 2011-3-27 13:16:18 | 显示全部楼层
软件工程师的事,不懂啊
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