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楼主: duling653

[求助] 65nm下电容的失配问题

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发表于 2011-4-11 15:21:10 | 显示全部楼层
高手过招。。
发表于 2011-4-12 16:46:36 | 显示全部楼层
学习了
发表于 2011-4-13 00:35:12 | 显示全部楼层
路过,学习了~~~
发表于 2011-4-13 09:23:42 | 显示全部楼层
一般都是用等宽度金属层吧,很少用不同宽度的,通孔不好打。
发表于 2011-7-23 05:37:45 | 显示全部楼层
Thanks guys
发表于 2013-8-26 13:38:16 | 显示全部楼层
回复 9# duling653


    请问下这种结构的 电容在LVS验证的时候可以识别吗? 我现在反向一款TSMC的SAR ADC  网表里面没有电容 但是LVS  验证成功,所以很奇怪。。求指导
发表于 2013-8-26 19:11:55 | 显示全部楼层
到底是mim电容的匹配好还是mom的匹配好啊,都搞糊涂了。
发表于 2013-8-27 05:29:01 | 显示全部楼层



两种电容的匹配决定因素不同,MOM更多决定于光刻精度,MIM更多决定于介质均匀性。对于大面积可能MOM会好些,小面积可能MIM会好些,大致可以作为guideline。
发表于 2014-5-15 11:25:36 | 显示全部楼层
受益匪浅啊。谢谢
发表于 2014-5-15 12:04:26 | 显示全部楼层
回复 49# gchucheng


    那 同樣電容下 mos cap v.s.  MIM    ?

以前 simulation   0.25um 2.5v process  
nmos電容 5 corner ..先考慮 signal > Vth .. 在去跑 mim 電容 . 我是跑 oscillator 看 clock 變化多大去判斷 .
使用 mos電容 simulation 比 MIM 好..
是否是因為要達到同樣電容下,  MIM  area >  nmos Cap .

另格問題是高壓  電容 60V BCD ..看過有人使用METAL 間的電容當高壓電容. 不過容值很小 .
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