在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 11508|回复: 44

[资料] Verifying_UPF_Designs_with_Retention_Registers.D-2010.03

[复制链接]
发表于 2010-11-16 14:22:20 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
对于lowpower设计如果使用了retention register来保存power gating circuit的status,那么在做formality时就要有一些特殊的要求,这篇文档详细介绍了对synospsys的UPF流程用formality来进行验证的方法。

Verifying_UPF_Designs_with_Retention_Registers.D-2010.03.pdf

204.95 KB, 下载次数: 445 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2010-11-16 15:53:29 | 显示全部楼层
good reference
发表于 2010-11-16 17:32:56 | 显示全部楼层
谢谢啊
发表于 2010-11-22 14:12:10 | 显示全部楼层
good!!!!!!
发表于 2010-11-24 15:51:30 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-11-24 19:22:03 | 显示全部楼层
thanks so much
发表于 2010-11-28 10:31:40 | 显示全部楼层
学习了!!!
发表于 2011-1-22 20:49:53 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2011-2-10 12:01:35 | 显示全部楼层
bu cuo de zi liao duo xie
发表于 2011-4-2 14:22:47 | 显示全部楼层
非常很好
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-28 07:28 , Processed in 0.035417 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表