关于引线以及填充金属对MOS管匹配影响的三篇IEEE实验文章

bellona · 发表于 2010-8-21 09:52:54

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三篇文章，对模拟电路版图设计还是很有帮助的。三篇分别为：
Characterization of systematic MOSFET current factor mismatch caused by metal CMP dummy structures
Effects of Metal Coverage on MOSFET Matching
Test structures for investigation of metal coverage effects on MOSFET matching

Sweetlover · 发表于 2010-8-27 09:08:54

谢了

haha999 · 发表于 2010-8-27 09:39:34

thanks a lot

jody3314 · 发表于 2010-8-29 03:37:36

订~~~~~~~~~~~~~~~

miaoyue1999 · 发表于 2011-10-17 11:37:04

好东西

Ailsa1017 · 发表于 2011-10-26 10:36:54

学习学习，谢谢！

rengd02 · 发表于 2011-10-27 21:34:39

谢谢了，是想看的东西

tuohong · 发表于 2011-11-7 16:23:35

看介绍很专业，谢谢楼主。

john_123 · 发表于 2011-11-7 19:19:14

thanks

cqbao · 发表于 2011-11-9 12:57:01

谢谢了

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