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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计
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查看: 4113|回复: 11

[资料] ASIC可测试性设计

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feilongf91
发表于 2010-8-19 21:15:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

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ASIC可测试性设计文献两篇
ASIC的可测性设计.pdf (270.2 KB, 下载次数: 98 ) ASIC可测性设计中扫描路径的应用与分析.pdf (92.06 KB, 下载次数: 63 )
设计

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lihongpengtd
发表于 2010-8-20 21:34:20 | 显示全部楼层
顶一个！
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Xswqaz123456
发表于 2010-8-23 10:20:24 | 显示全部楼层
顶一个，让大家看到
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yuanyi.0912
发表于 2010-8-24 16:07:00 | 显示全部楼层
好好看看
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fuzhigang
发表于 2010-8-27 22:44:18 | 显示全部楼层
ding yi ge
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fuzhigang
发表于 2010-8-27 22:50:31 | 显示全部楼层
再顶一下
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tbb2009
发表于 2010-8-28 11:37:51 | 显示全部楼层
看看内容如何
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ningwei8027
发表于 2010-8-28 18:25:34 | 显示全部楼层
好东西，顶一个！
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chenghaibo
发表于 2011-4-20 09:10:49 | 显示全部楼层
虽然内容讲的不是很清晰，还是感谢楼主的共享。
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allstars52
发表于 2011-7-18 08:54:35 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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