设为首页收藏本站

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

切换到宽版

手机号码，快捷登录

创芯云服务 : 创芯大讲堂 | 创芯人才网 | 数字IC职业培训 EETOP诚邀线上IC培训讲师!

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › 数字IC设计【ASIC|IC前端|FPGA】 › 数字IC设计讨论(IC前端|FPGA|ASIC) › 请教：nand flash SLC器件在实际使用过程中出现1bit坏块 ...

发新帖

查看: 2514|回复: 0

[求助] 请教：nand flash SLC器件在实际使用过程中出现1bit坏块的概率有多大？谢谢了！

发表于 2010-5-3 16:50:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

注意，不是出厂时就有的1bit坏块，而是在正常使用时，由好变成坏的概率？

谢谢！！！

相关帖子

回复

发新帖

高级模式

B Color Image Link Quote Code Smilies

您需要登录后才可以回帖登录 | 注册

本版积分规则回帖后跳转到最后一页

关闭

站长推荐 /2

×

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-5-18 16:17 , Processed in 0.019616 second(s), 10 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表