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MOS器件沟道热噪声的研究

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发表于 2010-1-22 17:20:23 | 显示全部楼层 |阅读模式

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文中总总结了沟道热噪声产生的机理,以及短沟道载流子有效迁移率的计算公式。系统并详细地描述了近年来基于深亚微米短沟道MOS器件的热噪声的模型。在文章的最后,介绍了沟道噪声的仿真和测试方法。

噪声.rar

108.82 KB, 下载次数: 205 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2010-1-25 22:10:24 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-1-26 11:33:28 | 显示全部楼层
谢谢!
发表于 2010-1-26 15:50:13 | 显示全部楼层
好资料,多谢
发表于 2010-1-26 16:09:10 | 显示全部楼层
研究一下。。。。。。等等再发
发表于 2010-1-27 14:17:20 | 显示全部楼层
貌似还不错
发表于 2010-1-27 15:35:18 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-1-28 14:51:51 | 显示全部楼层
我整下来看看哦,这是我感兴趣的东东
发表于 2010-2-4 14:33:43 | 显示全部楼层
谢谢!!
发表于 2010-2-10 14:09:24 | 显示全部楼层
好东西
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