在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: cosmosd

流片回来的数字芯片一般怎么测试啊?

[复制链接]
发表于 2014-9-10 09:05:50 | 显示全部楼层
软件,硬件测试,操作系统测试等等
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-22 09:06:34 | 显示全部楼层
电源是个大问题
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-22 13:34:34 | 显示全部楼层
楼主说的是回到设计公司吧!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-10-24 18:02:54 | 显示全部楼层
有很多。。要看具体哪个阶段的测试和测试哪些方面
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-11-5 13:31:16 | 显示全部楼层
有谁能说的清楚一些??
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-11-5 15:34:51 | 显示全部楼层
芯片wafer out后到foundry厂商现做wafer完整度测试,然后封测测试,测试封测过程中有无封测失误,然后后面还会有ATE测试,这个是根据功能设计来做的一个测试。ATE测试以前,设计商需要拿到芯片做相应的功能及性能测试,并根据测试结果调整ATE测试相关程序,找到最佳平衡点。ATE测试OK以后,就可以发货了。
回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-8-17 03:18 , Processed in 0.014087 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表