在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
楼主: dendrite

[高清晰版]VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

[复制链接]
发表于 2011-3-31 05:06:27 | 显示全部楼层
VLSI Test Principles and Architectures Design for Testabilit

than you
发表于 2011-4-4 14:46:08 | 显示全部楼层
谢谢分享。
发表于 2011-4-7 16:53:18 | 显示全部楼层
好书值得一看,对于我现在的工作会有点启示!
发表于 2011-4-7 16:55:39 | 显示全部楼层
good book
发表于 2011-4-8 04:25:07 | 显示全部楼层
的确是本好书
发表于 2011-4-11 10:43:17 | 显示全部楼层
good book, let us enjoy it.
发表于 2011-4-11 14:28:37 | 显示全部楼层
thanks for your information
thanks for your information
发表于 2011-5-7 03:13:41 | 显示全部楼层

good book, need it!
发表于 2011-5-11 15:33:41 | 显示全部楼层
kankankankankankankankankankan
发表于 2011-5-15 18:15:45 | 显示全部楼层
thanks for your sharing
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-22 11:22 , Processed in 0.031481 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表