FT测试发现有2%的open/short失效，大家帮我看看如何解决啊？

eric.sun612 · 发表于 2008-10-22 22:50:28

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某芯片FT测试发现有2%的open/short失效。
具体情况是发现IN和OUT短路失效。不知道应该怎么分析。
1. 经过X-ray，没看到异常
2. decap芯片去帽，表面正常。
3. 补充：wafer 的CP测试没有发现short问题
4. 封装厂测试线没有问题

请问各位达人，还有哪些因素要考虑的呢？如何通过实验的手段来进行分析？

harrier2005 · 发表于 2008-10-24 12:44:03

看看是不是有ESD的問題, I/O被打死了

liang0240 · 发表于 2008-10-25 18:21:05

谢谢楼主

arthurzhu · 发表于 2008-11-6 00:53:34

请问你这个是什么产品，每种产品可能原因不一样~~

emerlai · 发表于 2008-12-11 10:21:14

CP testing is OK: But short testing should make other pins to ground.

Leohuang891106 · 发表于 2013-1-18 15:18:22

怎么还有广告啊

sjzdzzgc · 发表于 2020-7-2 15:38:14

我们也遇到了这问题

FT测试发现有2%的open/short失效，大家帮我看看如何解决啊？

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