FT测试发现有2%的open/short失效，大家帮我看看如何解决啊？

eric.sun612 · 发表于 2008-10-22 22:50:28

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

某芯片FT测试发现有2%的open/short失效。
具体情况是发现IN和OUT短路失效。不知道应该怎么分析。
1. 经过X-ray，没看到异常
2. decap芯片去帽，表面正常。
3. 补充：wafer 的CP测试没有发现short问题
4. 封装厂测试线没有问题

请问各位达人，还有哪些因素要考虑的呢？如何通过实验的手段来进行分析？