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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析
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楼主: king2008

基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析

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jimcmwang
发表于 2015-11-17 12:36:39 | 显示全部楼层
基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析.pdf (392.22 KB)
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l25389345
发表于 2015-11-19 16:44:11 | 显示全部楼层
需要加強這方面的知識
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1973
发表于 2015-12-23 19:43:11 | 显示全部楼层
回复 1# king2008


   
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weijingchuan
发表于 2015-12-26 15:30:51 | 显示全部楼层
回复 1# king2008


   很不错
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pop_mos
发表于 2016-2-17 00:03:10 | 显示全部楼层
非常感谢
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pxj0557
发表于 2016-4-1 22:30:12 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢分享！
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hjacky2010
发表于 2016-11-21 16:33:12 | 显示全部楼层
这方面的东东很少.谢谢楼主哦.
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xdpeter
发表于 2017-1-3 15:45:14 | 显示全部楼层
很好的文章，谢谢分享
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huanshen1009
发表于 2017-2-20 16:24:45 | 显示全部楼层
thanks a lot
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csyu32
发表于 2018-1-26 16:17:54 | 显示全部楼层
很实用 多谢
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