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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析
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楼主: king2008

基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析

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javens_zhao
发表于 2015-2-6 15:47:11 | 显示全部楼层
好东西，刚经历了scan高温下pass，normal下fail的case
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yansuanxiti
发表于 2015-2-7 09:11:19 | 显示全部楼层
看看了，希望有用
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ICMTK
发表于 2015-2-10 10:06:44 | 显示全部楼层
下来看看看看
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yuxinsky521
发表于 2015-3-1 09:34:54 | 显示全部楼层
下来看看 谢谢楼主分享
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sanljd0116
发表于 2015-3-4 13:45:16 | 显示全部楼层
学习学习
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jimcmwang
发表于 2015-6-24 11:20:11 | 显示全部楼层
基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析.pdf (392.22 KB)
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yjwerxx
发表于 2015-6-24 18:03:39 | 显示全部楼层
谢谢分享。。。
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yjwerxx
发表于 2015-6-24 18:11:27 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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datouyu451
发表于 2015-11-9 23:03:53 | 显示全部楼层
中文资料seesee
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jimcmwang
发表于 2015-11-17 12:36:39 | 显示全部楼层
基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析.pdf (392.22 KB)
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