[求助] 数模混合电路的可测性设计

发表于 2014-5-7 17:15:17 | 显示全部楼层 |阅读模式

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芯片是一个数模混合电路，数字部分采用全扫描设计，并针对数字部分产生了ATPG，但是数字部分的一些pin来自于模拟电路，而非顶层的port，因此在ATE上，无法通过芯片的port完成对数字部分的扫描测试，请问有什么好方法能解决这个问题吗？能不能对数字部分加个边界扫描？谢谢了

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