在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
12
返回列表 发新帖
楼主: 898spake

[求助] LOD效应和STI效应有什么区别

[复制链接]
发表于 2020-6-1 09:28:04 来自手机 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
发表于 2020-6-7 22:03:33 | 显示全部楼层
一回事
发表于 2020-8-17 16:01:25 | 显示全部楼层
学习了
发表于 2020-9-3 17:21:48 | 显示全部楼层
学习了
发表于 2020-11-19 19:32:54 | 显示全部楼层
get了,thanks
发表于 2020-11-23 14:14:21 | 显示全部楼层
受教了
发表于 2020-11-23 16:06:27 | 显示全部楼层
学习了
发表于 2021-8-26 15:18:53 | 显示全部楼层


sltu02 发表于 2014-4-14 01:04
二者都是指同一件事...STI對silicon產生stress,改變了器件的晶格長度,使得VT和IDS在OD很小時會有與OD較大 ...


所这个OD是源漏到栅之间的距离吗?


发表于 2023-3-14 16:01:18 | 显示全部楼层
都是一个东西
发表于 2023-3-26 14:44:41 | 显示全部楼层
请问场氧具体是指那一部分结构
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-29 23:31 , Processed in 0.020526 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表