紧急求助不同电源域scan_chain插入问题

kulong168

各位大侠们，我的设计如附件图片所示：



1）我的设计分两个电源域，分别是V_Domain_A和V_Domain_B；
2）V_Domain_A为常开电源域；V_Domain_B在工作过程中会出现掉电的情况；

从V_Domain_B到V_Domain_A电源域的信号需要加isolation cell，所以我期望我的scan_chain的path如图中所示：
即：

每条scan_chain均从V_Domain_A指定的pin（so1、so2）到V_Domain_B，最终从指定的pin（si1，si2）返回到V_Domain_A再从芯片的scan out pin输出.

目前从V_Domain_A指定的pin出去是没有问题，
但在top层，我想让scan_chain按照我的思路走，
做了如下设置：
set_scan_path chain1 ……  -head_elements  {V_Domain_A中scan_chain1上的第一个cell}
set_scan_path chain2 ……  -head_elements  {V_Domain_A中scan_chain2上的第一个cell}

结果DC在insert_dft是直接退出，报了一堆数字。
然后我查看报告，发现scan_path并没有按照我的思路进行。

哪位高手帮忙解决一下这个问题，谢谢！！

kulong168

回复 1# kulong168
大侠们帮忙解决一下吧，别沉底喽  

xieqq

回复 2# kulong168


    为什么要这样走scan path？

eeares

先不谈如何实现，在测试阶段， A B domain必然都带电，你为什么要这么搞？

kulong168

回复 4# eeares
测试阶段的确是都带电，但功能模式下，当B掉电时，我要保证到A的信号加隔离呀，因为scan_out要复用功能IO吗。

eeares

回复  eeares
测试阶段的确是都带电，但功能模式下，当B掉电时，我要保证到A的信号加隔离呀，因为scan_ou ...
kulong168 发表于 2013-5-23 18:34

                               
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你只要根据真正scan chain的走法加入iso cell就行了，修改upf/cpf就行了，为什么削足适履