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楼主: nashmvp

[求助] 芯片加脉冲群干扰或接触放电后的latch up问题

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发表于 2014-9-28 18:30:07 | 显示全部楼层
我设计过的IC,也出现过latchup问题,若外加脉冲信号,则容易产生电流大,重新上电即可变好;比较几个差不多的产品后,我认为主要是ESD的NMOS离内部电路太近导致,因我们产品为了节省成本,以前每个PAD都做双边保护管,就是做一个PMOS和一个NMOS,但现在改面积小,就只做一个NMOS了,所以NMOS就离内部电路近了;同时,ESD的走线一定要和内部的电路的走线分开!这样就可避免,其他的多打孔和做保护环当然好,但做不好上面2样,其他的都是白搭!
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