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[原创] 请教ASIC中DFT的问题

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发表于 2011-6-21 20:23:10 | 显示全部楼层 |阅读模式

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大家好!最近做一款芯片,上面有一个OTP和EEPROM,我想通过DFT的Scan去写OTP,并把EEPROM的测试放到DFT的Scan中。因为对DFT不怎么懂,想请各位给点提示!谢谢大家~~~~~
发表于 2011-6-22 06:44:05 | 显示全部楼层
OTP不知道是啥?是不是模拟模块?模拟模块用通常的DFT SCAN是不能测试的。像RAM,ROM,AD,内嵌的FLASH等,这些都需要另外的测试方法。如RAM可以用MBIST的方法。FLASH的话可能也可以用BIST的方法,这个肯能还要FLASH HARD模块的结构来支持,EEPROM不知道有没有支持BIST的结构。
发表于 2011-6-27 14:21:16 | 显示全部楼层
dingyixiala
发表于 2011-7-25 23:48:07 | 显示全部楼层
你的想法是错误的
发表于 2011-8-6 10:57:19 | 显示全部楼层
EE和OTP可以另外设置testmode去测试和烧写,scan是不行的。。。
发表于 2012-10-22 18:39:31 | 显示全部楼层
lala land
发表于 2012-11-2 11:21:05 | 显示全部楼层
学习~
发表于 2012-11-4 21:52:57 | 显示全部楼层
谢谢啦
发表于 2012-11-26 19:23:26 | 显示全部楼层
EEPROM可以做memory bist试试。存储体是不能做scan的。
发表于 2013-3-14 21:49:17 | 显示全部楼层
用 JTAG 吧, serial input 自行定義的 command, address, data, 引發內部的 R/W 機制.
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